ZEISS O-INSPECT kaksikko

Mikroskooppi ja mittauslaite yhdessä

ZEISS O-INSPECT duo tarjoaa kaksi tekniikkaa yhdessä laitteessa: suuret työkappaleet, kuten piirilevyt, polttokennot tai akut, voidaan sekä tarkastaa metrologisesti että tarkastaa korkealla resoluutiolla ilman leikkaamista. 3D-mittaustekniikan ja mikroskooppisen tarkastuksen yhdistelmä lisää tehokkuutta ja säästää tilaa laatulaboratorioissa. ZEISS O-INSPECT duo on saatavana koossa 8/6/3.

2-in-1: mikroskooppi ja mittauslaite yhdessä laitteessa
Nopeat ja tarkat 3D-mittaukset - optiset ja taktiiliset
Korkearesoluutioinen optiikka, jossa on lisäksi ZEISS ZEN core -tarkastusohjelmisto

ZEISSin ensimmäinen moniteknologiajärjestelmä

Mittausmikroskooppina ZEISS O-INSPECT duo kattaa laadunvarmistuksen kaksi keskeistä sovellusaluetta: Suurten tai monien pienten komponenttien tarkka mittaus ja korkean resoluution tarkastus. Laite on myös kehitetty erityisesti sovelluksiin, jotka edellyttävät kolmiulotteisen mittauksen ja tarkastuksen yhdistelmää - mukaan lukien segmentointi, ompelu ja värikuvan kuvankäsittely. Laatulaboratoriot tarvitsevat nyt vain yhden laitteen mittauslaitteen ja mikroskoopin sijaan, mikä säästää tilaa ja järjestelmäkustannuksia. Selvitä, mitä muita etuja monitoimilaite tarjoaa kyseisille aloille